发明名称 STRUCTURE FOR X-RAY DIFFRACTION ANALYSIS
摘要 리세스부 및 상기 리세스부보다 폭이 좁은 개구부가 구비되어 도전성 재질로 이루어지는 제1 케이스; 상기 리세스부에 삽입되며 상기 개구부를 덮는 도전성 시트; 상기 리세스부에 삽입되는 돌기부 및 상기 돌기부보다 폭이 넓은 체결부를 포함하되, 상기 돌기부 및 체결부의 중앙영역에 기둥 형상의 수용공이 구비되어 절연성 재질로 이루어지는 절연케이스; 상기 수용공에 대응되는 형상으로 이루어져 상기 수용공으로 삽입되는 도전성 재질의 스페이서; 상기 수용공에 대응되는 형상으로 이루어져 상기 수용공으로 삽입되되 상부면은 상기 도전성 시트를 지향하고 외주면에 구비되는 밀폐구가 상기 수용공 내주면에 밀착되는 지지부를 포함하는 제2 케이스;를 포함하며, 상기 도전성 시트 및 상기 스페이서 사이에 전지 구조체를 삽입하여 전지 구조체를 충방전시키면서 엑스선 회절 분석을 할 수 있도록 하는 엑스선 회절 분석용 구조체가 개시된다.
申请公布号 KR20160143356(A) 申请公布日期 2016.12.14
申请号 KR20150079937 申请日期 2015.06.05
申请人 최현범 发明人 최현범
分类号 G01N23/20 主分类号 G01N23/20
代理机构 代理人
主权项
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