发明名称 |
SGTを有する半導体装置と、その製造方法 |
摘要 |
半導体装置の製造方法は、半導体基板(1)上に位置する半導体柱(6)にSGTを形成し、半導体柱(6)の部に存在する不純物領域(2a、3b)又はゲート導体層(10d)の側面に接するように配線半導体層(15、22)を形成する。配線半導体層(15、22)の側面に形成された第1の合金層(19a、23a)が、不純物領域(2b、3b)及びゲート導体層(10d)と直接的に繋がり、配線半導体層(15、22)の上面及び側面に形成された第2の合金層(19b、23b)の上面上に形成されたコンタクトホール(28c、28a)を介して出力配線金属層(Vout)に接続されている。 |
申请公布号 |
JPWO2015068226(A1) |
申请公布日期 |
2017.03.09 |
申请号 |
JP20140529748 |
申请日期 |
2013.11.06 |
申请人 |
ユニサンティス エレクトロニクス シンガポール プライベート リミテッドUnisantis Electronics Singapore Pte Ltd. |
发明人 |
舛岡 富士雄;原田 望 |
分类号 |
H01L21/8238;H01L21/28;H01L21/336;H01L27/092;H01L29/41;H01L29/78 |
主分类号 |
H01L21/8238 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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