用于测试电子器件的方法、测试系统和通过过程被测试的电路

摘要

本公开涉及用于测试集成电路的方法和装置。本公开的各方面提供一种测试方法。所述方法包括从电压调节器向待测试器件(DUT)供应电源。所述DUT包括被配置以响应于所述电源而生成反馈信号的自适应电压缩放模块。此外，所述方法包括接收从所述DUT到所述电压调节器的所述反馈信号以基于来自所述DUT的所述反馈信号来调节所述电源，并且在所述电压调节器基于从所述DUT接收的所述反馈信号来调节被提供到所述DUT的所述电源的同时确定所述DUT是否满足指定的性能要求。

主权项

一种用于测试电子器件的方法，包括：从电压调节器向待测试器件DUT供应电源，所述DUT包括自适应电压缩放模块，所述自适应电压缩放模块被配置以响应于所述电源而生成反馈信号；接收从所述DUT到所述电压调节器的所述反馈信号以基于来自所述DUT的所述反馈信号来调节所述电源；并且在所述电压调节器基于从所述DUT接收的所述反馈信号来调节被提供到所述DUT的所述电源的同时确定所述DUT是否满足指定的性能要求。