发明名称 存储器装置及其制造方法
摘要 本发明提供一种存储器装置及其制造方法。该存储器装置包括:基板,具有两个漏极区;位线,设于基板上;第一绝缘层,覆盖基板及位线,其中第一绝缘层具有沟槽露出两个漏极区;以及两个漏极接触插塞,设于沟槽中,且两个漏极接触插塞分别电连接两个漏极区,其中任一漏极接触插塞包括:第一导电层,设于基板上;衬层,设于第一导电层上及沟槽的侧壁上;及第二导电层,设于衬层上,其中两个漏极接触插塞之间具有隔离槽,且第二导电层具有面对隔离槽的侧边,其中衬层并未延伸至第二导电层的侧边上。本发明亦提供此存储器装置的制造方法。通过实施本发明,可更进一步缩小存储器的尺寸,且可增加工艺宽裕度以及工艺良品率。
申请公布号 CN106611763A 申请公布日期 2017.05.03
申请号 CN201510686402.6 申请日期 2015.10.21
申请人 华邦电子股份有限公司 发明人 欧阳自明;李书铭
分类号 H01L27/108(2006.01)I;H01L21/8242(2006.01)I 主分类号 H01L27/108(2006.01)I
代理机构 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人 汤在彦
主权项 一种存储器装置,其特征在于,所述存储器装置包括:一基板,具有两个漏极区;一位线,设于所述基板上;一第一绝缘层,覆盖所述基板及所述位线,其中所述第一绝缘层具有一沟槽露出所述两个漏极区;以及两个漏极接触插塞,设于所述沟槽中,且所述两个漏极接触插塞分别电连接所述两个漏极区,其中任一所述漏极接触插塞包括:一第一导电层,设于所述基板上;一衬层,设于所述第一导电层上及所述沟槽的侧壁上;及一第二导电层,设于所述衬层上,其中所述两个漏极接触插塞之间具有一隔离槽,且所述第二导电层具有面对所述隔离槽的一侧边,其中所述衬层并未延伸至所述第二导电层的所述侧边上。
地址 中国台湾台中市