发明名称 |
一种基于电子共振相频分析测量原子横向弛豫时间的方法 |
摘要 |
本发明公开了一种基于电子共振相频分析测量原子横向弛豫时间的方法。在足以忽略磁屏蔽桶内剩磁的强背景磁场下,在横向方向施加一个带宽覆盖共振曲线、幅值使磁共振曲线在低极化率下有清晰曲线的扫频信号,通过检测磁强计的光旋角信号,将输出信号在极坐标系下进行频谱分析,可以得到磁强计的相频响应函数,将其拟合到磁强计响应的相频理论曲线得到原子自旋横向弛豫时间。因为相角是自旋横向分量作商的结果,抑制了共同系数波动的影响,所以相频信号比幅频信号的表现更加稳定。此外相频理论曲线不受横向磁场磁感应强度和原子自旋纵向弛豫时间的影响,减小了处理数据的复杂度,而且可以规避横向磁场引发的洛伦茨曲线“展宽”的风险。 |
申请公布号 |
CN106597338A |
申请公布日期 |
2017.04.26 |
申请号 |
CN201611231085.X |
申请日期 |
2016.12.28 |
申请人 |
北京航空航天大学 |
发明人 |
丁铭;姚涵;张红;马丹跃;赵俊鹏 |
分类号 |
G01R33/60(2006.01)I;G01N24/10(2006.01)I |
主分类号 |
G01R33/60(2006.01)I |
代理机构 |
北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 |
代理人 |
杨学明;顾炜 |
主权项 |
一种基于电子共振相频分析测量原子横向弛豫时间的方法,其特征在于:在原子磁强计上施加强背景磁场和覆盖磁共振频率的横向扫频信号,实现电子自旋共振,通过相频分析获得原子磁强计的原子自旋横向弛豫时间。 |
地址 |
100191 北京市海淀区学院路37号 |