发明名称 一种高电子迁移率晶体管器件及其制备方法
摘要 本发明涉及一种高电子迁移率晶体管器件及其制备方法,该器件包括:衬底、依次设置在所述衬底上的外延层、第一绝缘层、第二绝缘层,栅极、源极和漏极,与所述栅极、源极、漏极电连接的栅极引脚、源极引脚和漏极引脚、以及设置在所述第二绝缘层上部,位于所述栅极引脚、源极引脚和漏极引脚之间的间隔的第三绝缘层;其中,所述第三绝缘层由高分子有机材料制成。本发明通过在器件最外层添加一层绝缘层,降低了传统器件表面的粗糙程度,减少了器件表面吸附的杂质和静电,从而降低了器件表面漏电,增大了器件的耐压性。
申请公布号 CN106601805A 申请公布日期 2017.04.26
申请号 CN201510671953.5 申请日期 2015.10.15
申请人 北京大学;北大方正集团有限公司;深圳方正微电子有限公司 发明人 刘美华;陈建国;林信南
分类号 H01L29/778(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I 主分类号 H01L29/778(2006.01)I
代理机构 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人 李相雨
主权项 一种高电子迁移率晶体管器件,其特征在于,包括:衬底、依次设置在所述衬底上的外延层、第一绝缘层、第二绝缘层,栅极、源极和漏极,与所述栅极、源极、漏极电连接的栅极引脚、源极引脚和漏极引脚、以及设置在所述第二绝缘层上部,位于所述栅极引脚、源极引脚和漏极引脚之间的间隔的第三绝缘层;其中,所述第三绝缘层由高分子有机材料制成。
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