发明名称 |
多基色色域覆盖率的测量方法及装置 |
摘要 |
本发明提出一种多基色NTSC色域覆盖率的测量方法及装置,通过获取参照色域的参考基色坐标以及显示设备色域的对照基色坐标,在色域图上产生若干随机点并检测随机点的产生位置,若检测到随机点的产生位置处于参照色域的参考基色坐标构成的封闭区域内,则增加随机点在参照色域出现的第一计数值,若检测到该随机点同时也处于显示设备色域的对照基色坐标构成的封闭区域内,则增加随机点在显示设备色域出现的第二计数值,当随机点产生个数达到预设值后,根据得到的第一计数值以及第二计数值测量多基色NTSC色域覆盖率,具备通用性、可靠性和实用性。 |
申请公布号 |
CN106604025A |
申请公布日期 |
2017.04.26 |
申请号 |
CN201611161481.X |
申请日期 |
2016.12.15 |
申请人 |
广东威创视讯科技股份有限公司 |
发明人 |
黄早珊 |
分类号 |
H04N17/00(2006.01)I;H04N17/02(2006.01)I |
主分类号 |
H04N17/00(2006.01)I |
代理机构 |
广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 |
代理人 |
刘艳丽 |
主权项 |
一种多基色NTSC色域覆盖率的测量方法,其特征在于,包括以下步骤:获取参照色域的参考基色坐标;获取显示设备色域的对照基色坐标;在所述参照色域以及显示设备色域所在的色域图上产生若干随机点并检测所述随机点的产生位置;若所述随机点的产生位置处于参照色域的参考基色坐标构成的封闭区域内,则增加随机点在参照色域出现的第一计数值;若所述随机点的产生位置同时处于显示设备色域的对照基色坐标构成的封闭区域内,则增加随机点在显示设备色域出现的第二计数值;根据所述第一计数值以及第二计数值测量多基色NTSC色域覆盖率,其中,所述多基色NTSC色域覆盖率等于所述第二计数值除以第一计数值。 |
地址 |
510670 广东省广州市广州高新技术产业开发区科珠路233号 |