发明名称 碳化硅外延晶片及其制造方法
摘要 实施方案提供:用于制备碳化硅外延晶片的方法,所述方法包括以下步骤:准备晶片,向所述晶片施加反应气体,加热所述反应气体以产生中间化合物,以及利用产生的中间化合物在所述晶片上形成碳化硅外延层,其中所述反应气体包含多种烃类化合物;以及碳化硅外延晶片,所述碳化硅外延晶片包括由反应气体形成的碳化硅外延层,所述反应气体包含多种烃类化合物,其中在晶片上所述碳化硅外延层的C/Si值是均匀的,并因此可提高晶片上碳化硅外延层的均匀性。
申请公布号 CN106605302A 申请公布日期 2017.04.26
申请号 CN201580047725.9 申请日期 2015.07.31
申请人 LG伊诺特有限公司 发明人 姜石民
分类号 H01L29/16(2006.01)I;H01L21/20(2006.01)I 主分类号 H01L29/16(2006.01)I
代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人 蔡胜有;苏虹
主权项 一种碳化硅外延晶片,包括由反应气体形成的碳化硅外延层,所述反应气体包含多种烃类化合物,其中所述碳化硅外延层的C/Si值在整个所述晶片中是均匀的。
地址 韩国首尔