发明名称 |
带引线热敏电阻的电阻测量装置 |
摘要 |
本发明主要是提供一种带引线的电子元器件的电阻测量装置,其能够防止测量精度可靠性的降低。包括:在使多个带引线热敏电阻(W)排列的状态下,保持引线部分(b)的工件托架(12);在支承工件托架(12)以使热敏电阻部分(a)突出的状态下,能在规定方向上传送带引线热敏电阻(W)的支承部(14);收纳使热敏电阻部分(a)浸渍的载热体的浸渍槽(26);以及在引线部分(b)的长边方向观察时,通过使测量端子(46)在气氛中接触至与热敏电阻部分(a)相反一侧的引线部分(b)的前端部,来对带引线热敏电阻(W)的电阻值进行测量的测量部(40),在支承部(14)中内置使与浸渍槽(26)的载热体(h)相同的载热体循环的循环流路(24),在浸渍槽(26)中被加热的热敏电阻部分(a)的温度与经由在循环流路(24)内循环的载热体(h)而被加热的引线部分(a)的温度被设定成大致相同的温度。 |
申请公布号 |
CN106574940A |
申请公布日期 |
2017.04.19 |
申请号 |
CN201580037071.1 |
申请日期 |
2015.02.27 |
申请人 |
株式会社村田制作所 |
发明人 |
户田圭 |
分类号 |
G01R27/02(2006.01)I;H01C7/04(2006.01)I |
主分类号 |
G01R27/02(2006.01)I |
代理机构 |
上海专利商标事务所有限公司 31100 |
代理人 |
万捷 |
主权项 |
一种带引线热敏电阻的电阻测量装置,用于对带引线热敏电阻是否具有规定的温度特性进行判定,通过使测量端子与所述带引线热敏电阻的引线部分接触,来对所述带引线热敏电阻的电阻值进行测量,其特征在于,包括:工件托架,该工件托架在使多个带引线热敏电阻排列的状态下,保持所述引线部分;支承部,该支承部能在支承所述工件托架以使带引线热敏电阻的热敏电阻部分从端部突出的状态下,在规定的方向上传送多个所述带引线热敏电阻;浸渍槽,该浸渍槽收纳了供所述热敏电阻部分浸渍的规定温度的载热体;以及测量部,该测量部在所述引线部分的长边方向观察时,通过使所述测量端子在气氛中接触所述热敏电阻部分相反侧的所述引线部分的前端部,来对所述带引线热敏电阻的电阻值进行测量,在所述支承部中内置循环流路,该循环流路中循环有与所述浸渍槽的载热体相同的载热体,使得浸渍在所述浸渍槽的载热体中而被加热的所述热敏电阻部分的温度与经由在所述支承部的循环流路内循环的载热体而被加热的所述引线部分的温度成为大致相同的温度。 |
地址 |
日本京都府 |