| 发明名称 | 测量颗粒以及气体的测量装置、测量系统以及测量方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及测量颗粒以及气体的测量装置、测量系统以及测量方法，测量装置(10)具备：第一流路(F1)；加热部(17)，其设置于第一流路(F1)的一端侧；气体感测部(15)，其设置于第一流路(Fa)的一端侧，且能够利用从加热部(17)接受到的热来感测气体；颗粒测量部(10a)，其在第一流路(F1)的比加热部(17)靠上方光学测量通过第一流路(F1)的颗粒。 | ||
| 申请公布号 | CN106574888A | 申请公布日期 | 2017.04.19 |
| 申请号 | CN201480080896.7 | 申请日期 | 2014.07.25 |
| 申请人 | 富士通株式会社 | 发明人 | 壶井修;丑込道雄;百濑悟 |
| 分类号 | G01N15/02(2006.01)I;G01N25/18(2006.01)I;G01N27/16(2006.01)I | 主分类号 | G01N15/02(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人 | 舒艳君;李洋 |
| 主权项 | 一种测量装置，具备：第一流路；加热部，其设置于上述第一流路的一端侧；气体感测部，其设置于上述第一流路的上述一端侧，且能够通过从上述加热部接受到的热来感测气体；以及颗粒测量部，其在上述第一流路的比上述加热部靠上方光学测量通过上述第一流路的颗粒。 | ||
| 地址 | 日本神奈川县 | ||