发明名称 | 图像型电子自旋分析器 | ||
摘要 | 本发明提供一种图像型电子自旋分析器。所述图像型电子自旋分析器至少包括:散射靶、二维图像型电子探测器、以及电子弯转单元;其中,电子弯转单元用于使入射电子聚焦后弯转第一角度后、以最优入射角聚焦入射至散射靶以及使散射靶散射出的出射电子聚焦后弯转第二角度后、以最优出射角聚焦出射至二维图像型电子探测器,且入射电子的运动轨道与出射电子的运动轨道分离,第一角度及第二角度中至少一者不为0<sup>0</sup>;从而可以分别实现电子自旋分析器初始平面处电子图像到靶平面的第一次二维成像及从靶平面到二维图像型电子探测器平面的第二次二维成像,进而实现电子自旋的多通道测量;而且电子弯转单元的引进可以增加自旋分析器各个组件的几何配置的自由度。 | ||
申请公布号 | CN104345331B | 申请公布日期 | 2017.04.19 |
申请号 | CN201310313572.0 | 申请日期 | 2013.07.24 |
申请人 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 发明人 | 乔山;万维实;季福昊 |
分类号 | G01T1/32(2006.01)I | 主分类号 | G01T1/32(2006.01)I |
代理机构 | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人 | 李仪萍 |
主权项 | 一种图像型电子自旋分析器,其特征在于,所述图像型电子自旋分析器至少包括:散射靶、二维图像型电子探测器、电子弯转单元;其中,所述电子弯转单元包括磁场产生单元以及第一电子透镜、第二电子透镜、第三电子透镜,初始电子平面、散射靶、二维图像型电子探测器分别处于所述第一电子透镜、第二电子透镜、第三电子透镜的焦平面上;所述电子弯转单元用于使来自所述初始电子平面处的入射电子经过所述第一电子透镜后进入所述磁场产生单元,该磁场产生单元使入射电子弯转180°后经由所述第二电子透镜垂直入射至所述散射靶,经过所述散射靶散射的出射电子经过所述第二电子透镜后再一次进入所述磁场产生单元,该磁场产生单元使出射电子再一次弯转180°后经由所述第三电子透镜垂直到达所述二维图像型电子探测器;且入射电子的运动轨道与出射电子的运动轨道分离。 | ||
地址 | 200050 上海市长宁区长宁路865号 |