发明名称 |
密封腔体中的独立式和非独立式的基于金属和金属合金的MEMS结构的晶片级单片CMOS集成及其形成方法 |
摘要 |
提供了在平坦化CMOS基板上直接制造的金属MEMS结构的组装件,其含有特定用途集成电路(ASIC),通过ASIC互连层上的直接沉积和随后的微制造步骤制造,具有用于封装的集成的盖帽。MEMS结构包括至少一个MEMS装置元件,具有或不具有利用经由ASIC的金属互连体提供的电接触安置在CMOS ASIC晶片上的可移动部分。MEMS结构也可以由合金、导电氧化物、或几种的组合制成。通过CMOS基板的后加工中限定的接合垫来完成提供密封腔体的集成的盖帽、或在CMOS基板上直接制造集成的盖帽。 |
申请公布号 |
CN106575673A |
申请公布日期 |
2017.04.19 |
申请号 |
CN201580042506.1 |
申请日期 |
2015.06.10 |
申请人 |
因森斯股份有限公司 |
发明人 |
N.塔耶比;H.罗 |
分类号 |
H01L29/84(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/84(2006.01)I |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 11105 |
代理人 |
邱军 |
主权项 |
一种装置,包括:容纳特定用途集成电路(ASIC)的互补金属氧化物半导体基板(CMOS),其中所述CMOS基板包含互连层;在所述互连层上直接制造的微机电(MEMS)结构;以及在所述CMOS基板上设置的盖帽,所述盖帽含有至少一个腔体,在所述腔体中包封至少一个MEMS结构。 |
地址 |
美国加利福尼亚州 |