发明名称 密封腔体中的独立式和非独立式的基于金属和金属合金的MEMS结构的晶片级单片CMOS集成及其形成方法
摘要 提供了在平坦化CMOS基板上直接制造的金属MEMS结构的组装件,其含有特定用途集成电路(ASIC),通过ASIC互连层上的直接沉积和随后的微制造步骤制造,具有用于封装的集成的盖帽。MEMS结构包括至少一个MEMS装置元件,具有或不具有利用经由ASIC的金属互连体提供的电接触安置在CMOS ASIC晶片上的可移动部分。MEMS结构也可以由合金、导电氧化物、或几种的组合制成。通过CMOS基板的后加工中限定的接合垫来完成提供密封腔体的集成的盖帽、或在CMOS基板上直接制造集成的盖帽。
申请公布号 CN106575673A 申请公布日期 2017.04.19
申请号 CN201580042506.1 申请日期 2015.06.10
申请人 因森斯股份有限公司 发明人 N.塔耶比;H.罗
分类号 H01L29/84(2006.01)I 主分类号 H01L29/84(2006.01)I
代理机构 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人 邱军
主权项 一种装置,包括:容纳特定用途集成电路(ASIC)的互补金属氧化物半导体基板(CMOS),其中所述CMOS基板包含互连层;在所述互连层上直接制造的微机电(MEMS)结构;以及在所述CMOS基板上设置的盖帽,所述盖帽含有至少一个腔体,在所述腔体中包封至少一个MEMS结构。
地址 美国加利福尼亚州