发明名称 一种适用于FPGA的可靠性评估方法和装置
摘要 本发明提供一种适用于FPGA的可靠性评估方法和装置,包括:对于每个待评估的线路故障,识别它所对应的敏化输入向量的集合,所述敏化输入向量是可激活所述待评估的线路故障的输入向量,所述线路故障为线路上的固定v故障,v为逻辑值。进一步地,所述可靠性评估方法还可以包括:对于每个待评估的线路故障,识别它所对应的失效输入向量的集合,所述失效输入向量是故障能够传播到电路输出,造成错误输出逻辑值的输入向量。其中,采用逻辑值X代表0或1,精简输入向量。本发明能够快速准确地得出FPGA中各种线路故障被激活的概率。进一步地,本发明能够快速准确地得出FPGA中各种线路故障的故障传播概率,进而快速准确地对FPGA电路进行可靠性评估。
申请公布号 CN103646129B 申请公布日期 2017.04.12
申请号 CN201310594897.0 申请日期 2013.11.22
申请人 中国科学院计算技术研究所 发明人 黄柯衡;叶靖;胡瑜;李晓维
分类号 G06F17/50(2006.01)I 主分类号 G06F17/50(2006.01)I
代理机构 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 代理人 王勇
主权项 一种适用于FPGA的可靠性评估方法,包括下列步骤:1)对于每个待评估的线路故障,识别它所对应的敏化输入向量的集合,所述敏化输入向量是可激活所述待评估的线路故障的输入向量,所述线路故障为线路上的固定v故障,v为逻辑值;2)根据所述步骤1)获得的各待评估的线路故障所对应的敏化输入向量的集合评估FPGA的可靠性;对于每个待评估的线路故障,基于代表FPGA电路中各逻辑单元的查找表,在步骤1)得到的敏化输入向量的集合中识别出失效输入向量的集合,所述失效输入向量是在所述线路故障时,会导致FPGA电路的输出逻辑值错误的输入向量;其中,所述步骤1)包括下列子步骤:11)首先获取输入线路故障所对应的敏化输入向量的集合;用精简敏化向量表示敏化输入向量的集合,所述精简敏化向量由1、0、X组成,其中X表示相应位的逻辑值既可为0也可为1;12)基于步骤11)所得的输入线路故障的精简敏化向量,以及代表FPGA电路中各逻辑单元的查找表,通过精简敏化向量的逻辑计算,自电路输入级向电路输出级推导其它线路故障的精简敏化向量;所述步骤2)包括下列子步骤:21)针对输出线路故障,根据其精简敏化向量获得其失效输入向量的集合;所述失效输入向量的集合用精简失效向量表示,所述精简失效向量由1、0、X组成,其中X表示相应位的逻辑值既可为0也可为1;22)基于步骤21)所得的输出线路故障的精简失效向量,以及步骤1)所得的各线路故障的精简敏化向量,以及代表FPGA电路中各逻辑单元的查找表,自电路输出级向电路输入级推导其它线路故障的精简失效向量。
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