| 发明名称 | 用于在介于受测试装置与测试电子器件之间的应用空间中传输信号的结构 | ||
| 摘要 | 本发明公开了用于在介于受测试装置(DUT)与测试电子器件之间的应用空间中传输信号的一个示例性结构，该示例性结构包括：电路板，该电路板为介于测试电子器件与受测试装置(DUT)之间的应用空间的部分；以及同轴结构，该同轴结构用于沿着介于该测试电子器件与该DUT之间的电通路传递信号。该同轴结构包括至少由返回线路部分地围绕的信号线路。 | ||
| 申请公布号 | CN106561086A | 申请公布日期 | 2017.04.12 |
| 申请号 | CN201580032165.X | 申请日期 | 2015.06.17 |
| 申请人 | 泰拉丁公司 | 发明人 | 罗格·艾伦·辛希莫 |
| 分类号 | G01R31/26(2014.01)I;G01R31/28(2006.01)I;G08C19/02(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/26(2014.01)I |
| 代理机构 | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人 | 戚传江;金洁 |
| 主权项 | 一种设备，包括：电路板，所述电路板为介于测试电子器件与受测试装置(DUT)之间的应用空间的部分；以及同轴结构，所述同轴结构沿着介于所述测试电子器件与所述DUT之间的电通路传递信号，所述同轴结构包括信号线路，所述信号线路至少由返回线路部分地围绕。 | ||
| 地址 | 美国马萨诸塞州 | ||