| 发明名称 | 用于对测量对象的厚度进行测量的装置和方法 | ||
| 摘要 | 一种通过附连在机器框架上的测量机构来测量在测量间隙中的测量对象的厚度的装置，该测量对象较佳地具有板或货运货物的形状，其中，该测量机构为了测量厚度具有朝向测量对象定向的一个或多个距离测量传感器，其特征在于，联接至距离测量传感器的补偿传感器测量到参考尺的距离，以检测和补偿测量间隙的变化，该参考尺设计为参考装置的一侧，该参考装置形状做成框架并集成入测量机构中，以及参考装置构造成以在厚度测量过程中参考尺与参考装置的和该参考尺相对的侧之间的距离是已知。此外，给出用于测量厚度的对应的方法。 | ||
| 申请公布号 | CN103492831B | 申请公布日期 | 2017.04.12 |
| 申请号 | CN201280018020.0 | 申请日期 | 2012.03.27 |
| 申请人 | 微－埃普西龙测量技术有限两合公司 | 发明人 | A·松他格;G·基施纳;H·菲尔迈耶;F·浩切威马 |
| 分类号 | G01B7/06(2006.01)I;G01B11/06(2006.01)I;G01B21/08(2006.01)I | 主分类号 | G01B7/06(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人 | 张兰英 |
| 主权项 | 一种通过附连在机器框架上的测量机构测量在测量间隙(d<sub>A</sub>)中的测量对象(12,23)的厚度的装置，所述测量机构具有朝向测量对象(12,23)定向的用于测量所述测量对象(12,23)的厚度的一个或多个距离测量传感器(1,2),其特征在于，联接至距离测量传感器(1,2)的至少一个补偿传感器(4,5)测量至参考引导件(6,7)的距离，以检测和补偿测量间隙(d<sub>A</sub>)的变化，所述参考引导件(6,7)设计为参考装置的一侧，所述参考装置集成入所述测量机构，并具有框架形状，以及所述参考装置设计成在厚度测量过程中，所述参考装置的与所述参考引导件(6,7)相对的那侧与所述参考引导件(6,7)之间的距离通过保持恒定或者通过测量是已知的。 | ||
| 地址 | 德国奥滕伯格 | ||