发明名称 |
Probenhalter und mit geladenen Teilchen arbeitende Vorrichtung |
摘要 |
Probenhalter mit einem Gaseinleitrohr und einem Gasauslassrohr zum Steuern der Umgebung einer Probe in einem Atmosphärendruckumfeld in einer Probenkammer einer mit geladenen Teilchen arbeitenden Vorrichtung mit einem Durchgangsloch für geladene Teilchen, das auch als Mikroöffnung zur Detektion von der Probe abgegebener Sekundärelektronen oberhalb der Probe dient, und mit einem Durchgangsloch für geladene Teilchen zum sicheren Ausführen des Absaugens nach dem Gaseinlass, indem der Lochdurchmesser größer gemacht wird als jener der Mikroöffnung oberhalb der Probe. |
申请公布号 |
DE112014003586(B4) |
申请公布日期 |
2017.04.06 |
申请号 |
DE20141103586T |
申请日期 |
2014.05.19 |
申请人 |
HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION |
发明人 |
Nagakubo, Yasuhira;Nagaoki, Isao;Matsumoto, Hiroaki;Sato, Takeshi |
分类号 |
H01J37/20;H01J37/18 |
主分类号 |
H01J37/20 |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
|
地址 |
|