发明名称 Probenhalter und mit geladenen Teilchen arbeitende Vorrichtung
摘要 Probenhalter mit einem Gaseinleitrohr und einem Gasauslassrohr zum Steuern der Umgebung einer Probe in einem Atmosphärendruckumfeld in einer Probenkammer einer mit geladenen Teilchen arbeitenden Vorrichtung mit einem Durchgangsloch für geladene Teilchen, das auch als Mikroöffnung zur Detektion von der Probe abgegebener Sekundärelektronen oberhalb der Probe dient, und mit einem Durchgangsloch für geladene Teilchen zum sicheren Ausführen des Absaugens nach dem Gaseinlass, indem der Lochdurchmesser größer gemacht wird als jener der Mikroöffnung oberhalb der Probe.
申请公布号 DE112014003586(B4) 申请公布日期 2017.04.06
申请号 DE20141103586T 申请日期 2014.05.19
申请人 HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION 发明人 Nagakubo, Yasuhira;Nagaoki, Isao;Matsumoto, Hiroaki;Sato, Takeshi
分类号 H01J37/20;H01J37/18 主分类号 H01J37/20
代理机构 代理人
主权项
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