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Ein Verfahren zum Testen eines Analog-Digital Wandlers. Das Verfahren umfasst Bereitstellen einer Reihe von Fächern, Variieren einer Spannung, Nehmen von Spannungsproben, Bereitstellen eines Auswahlsignals, Zuordnen von Proben jeweils mit einem Fach der Reihe von Fächern, und Beobachten einer Anzahl von Proben, die den jeweiligen Fächern zugeordnet sind. Eine Vorrichtung umfasst einen Analog-Digital Wandler, der dazu konfiguriert ist, eine Spannung an einem Eingangsknoten in eine digitale Darstellung umzuwandeln, die an einem Ausgangsknoten bereitgestellt wird, wobei der Eingangsknoten dazu konfiguriert ist, an einen Spannungsgenerator gekoppelt zu werden; und eine Probenauswahleinheit, die dazu konfiguriert ist, festzustellen, ob eine Spannung an dem Eingangsknoten wenigstens gleich einem ersten Schwellenspannungspegel ist und einen zweiten Schwellenspannungspegel nicht überschreitet. Die Vorrichtung ist dazu konfiguriert, auf der Grundlage der Feststellung die digitale Darstellung wahlweise einem Fach der Reihe von Fächern zuzuordnen. |
