发明名称 Verfahren zum Bilden einer Halbleitervorrichtungsstruktur
摘要 Ein Verfahren zum Bilden einer Halbleitervorrichtungsstruktur wird bereitgestellt. Die Halbleitervorrichtungsstruktur umfasst das Bilden eines Films über einem Substrat. Die Halbleitervorrichtungsstruktur umfasst das Bilden einer ersten Maskenschicht über dem Film. Die Halbleitervorrichtungsstruktur umfasst das Bilden einer zweiten Maskenschicht über der ersten Maskenschicht. Die zweite Maskenschicht legt einen ersten Abschnitt der ersten Maskenschicht frei. Die Halbleitervorrichtungsstruktur umfasst das Ausführen eines Plasmaätz- und Abscheidungsprozesses, um den ersten Abschnitt der ersten Maskenschicht zu entfernen und eine Schutzschicht über einer ersten Seitenwand der zweiten Maskenschicht zu bilden. Die erste Maskenschicht legt einen zweiten Abschnitt des Films nach dem Plasmaätz- und Abscheidungsprozess frei. Die Halbleitervorrichtungsstruktur umfasst das Entfernen des zweiten Abschnitts unter Verwendung der ersten Maskenschicht und der zweiten Maskenschicht als eine Ätzmaske.
申请公布号 DE102015117230(A1) 申请公布日期 2017.03.30
申请号 DE201510117230 申请日期 2015.10.09
申请人 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. 发明人 Liao, Keng-Ying;Tseng, Chung-Bin;Chen, Yi-Jie;Chen, Po-Zen;Chen, Yi-Hung
分类号 H01L21/308;H01L21/336 主分类号 H01L21/308
代理机构 代理人
主权项
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