发明名称 基于原子共振吸收和差分探测的激光频谱纯度测量装置
摘要 本发明公开了一种基于原子共振吸收和差分探测的激光频谱纯度测量装置,涉及激光应用技术的激光频谱纯度分析领域。本装置是:半导体锥形放大激光器、单模保偏光纤、光纤准直镜、隔离器、二分之一波片、偏振分光棱镜、原子蒸汽共振吸收池、第2反射镜、第1反射镜和第2光强探测器依次连接或排列,第2光强探测器得到杂散光;第1光强探测器置于偏振分光棱镜下方,第1光强探测器得到参考光;将杂散光和参考光的比值用来标定激光频谱的纯度。本发明适用于定量化检测半导体锥形放大激光器频谱的纯度。
申请公布号 CN106546342A 申请公布日期 2017.03.29
申请号 CN201710028845.5 申请日期 2017.01.16
申请人 中国科学院武汉物理与数学研究所 发明人 张文冬;周林;王谨;詹明生
分类号 G01J11/00(2006.01)I;G01M11/02(2006.01)I 主分类号 G01J11/00(2006.01)I
代理机构 武汉宇晨专利事务所 42001 代理人 黄瑞棠
主权项 一种基于原子共振吸收和差分探测的激光频谱纯度测量装置,包括半导体锥形放大激光器(0),锁定在共振光频率上,并提供入射光(A);其特征在于:在密封盒(10)内设置有单模保偏光纤(1)、光纤准直镜(2)、隔离器(3)、二分之一波片(4)、偏振分光棱镜(5)、第1反射镜(6‑1)、第2反射镜(6‑2)、第1光强探测器(7‑1)、第2光强探测器(7‑2)、温度测量计(8)和原子蒸汽共振吸收池(9);半导体锥形放大激光器(0)、单模保偏光纤(1)、光纤准直镜(2)、隔离器(3)、二分之一波片(4)、偏振分光棱镜(5)、原子蒸汽共振吸收池(9)、第2反射镜(6‑2)、第1反射镜(6‑1)和第2光强探测器(7‑2)依次连接或排列,第2光强探测器(7‑2)得到残余光(B);第1光强探测器(7‑1)置于偏振分光棱镜(5)下方,第1光强探测器(7‑1)得到参考光(C);温度测量计(8)用来测量装置内部的温度;将残余光(B)和参考光(C)的比值用来标定激光频谱的纯度。
地址 430071 湖北省武汉市武昌小洪山