发明名称 |
OLED的ShortingBar输出精度校准测试方法及系统 |
摘要 |
本发明公开了一种OLED的ShortingBar输出精度校准测试方法及系统,本发明方法通过对采集的ShortingBar输出端的实际电压值运用最小二乘法拟合直线的方法进行校准后再输出,解决了因ShortingBar电压输出精度不高,而导致OLED玻璃画面异常的问题,且校准精度高、能大幅提高测试效率。本发明装置采用采集板依次与ShortingBar的每个输出端导通采集电压值,采集后自动切换下一个输出端,使PC获得ShortingBar的实际电压值与校准电压值,本装置能扩展至48路I/O接口。 |
申请公布号 |
CN104157228B |
申请公布日期 |
2017.03.29 |
申请号 |
CN201410351790.8 |
申请日期 |
2014.07.23 |
申请人 |
武汉精测电子技术股份有限公司 |
发明人 |
彭骞;徐锐;陈凯;沈亚非 |
分类号 |
G09G3/00(2006.01)I;G09G3/3208(2016.01)I |
主分类号 |
G09G3/00(2006.01)I |
代理机构 |
武汉开元知识产权代理有限公司 42104 |
代理人 |
黄行军;刘琳 |
主权项 |
一种OLED的ShortingBar输出精度校准测试方法,其特征在于,包括如下步骤:1)使ShortingBar(1)的每个输出端输出相应的设定电压值;2)依次采集所述ShortingBar(1)的每个输出端的实际电压值;3)将所述ShortingBar(1)每个输出端的实际电压值与设定电压值进行比对,用最小二乘法拟合直线的方法计算出校准参数;4)将所述校准参数输入ShortingBar(1),所述ShortingBar(1)根据校准参数修正每个输出端的设定电压后再输出校准电压值;5)重复步骤2),若所述ShortingBar(1)的每个输出端的实际电压值与设定电压值的误差在±50mv以内,测试完成;若误差大于±50mv,则重复步骤3)、4)、5)。 |
地址 |
430070 湖北省武汉市洪山区南湖大道53号洪山创业中心4楼 |