发明名称 マスク及びパターン形成方法
摘要 【課題】高精度なパターンを容易に形成可能なマスク及びパターン形成方法を提供する。【解決手段】実施形態によれば、基板と、第1、第2パターン部と、を含むマスクが提供される。基板は、第1面を含む。第1パターン部は、複数の第1光学部材を含む。複数の第1光学部材は、第1面に設けられ、第1面に沿う第1方向に並ぶ。複数の第1光学部材の光透過率は、基板の光透過率よりも低い。隣り合う2つの第1光学部材の間の距離は、第1距離である。第2パターン部は、複数の第2光学部材を含む。複数の第2光学部材は、第1面に設けられ、第1方向に並ぶ。複数の第2光学部材の光透過率は、基板の光透過率よりも低い。隣り合う2つの第2光学部材の間の距離は、第1距離とは異なる第2距離である。第1光が前記第1パターン部に入射し第1パターン部を透過する光の第1位相は、第1光が第2パターン部に入射し第2パターン部を透過する光の第2位相とは異なる。【選択図】図1
申请公布号 JP2017054091(A) 申请公布日期 2017.03.16
申请号 JP20150180100 申请日期 2015.09.11
申请人 株式会社東芝 发明人 佐藤 隆;田中 聡
分类号 G03F1/26;G03F7/20 主分类号 G03F1/26
代理机构 代理人
主权项
地址