发明名称 半導体装置
摘要 【課題】長い期間においてデータの保持が可能な記憶装置を提供する。【解決手段】記憶素子と、上記記憶素子における電荷の供給、保持、放出を制御するためのスイッチング素子として機能するトランジスタとを有する。上記トランジスタは、通常のゲート電極の他に、閾値電圧を制御するための第2のゲート電極が備えられており、また、活性層に酸化物半導体を含むためにオフ電流が極めて低い。上記記憶装置では、絶縁膜に囲まれたフローティングゲートに高電圧で電荷を注入するのではなく、オフ電流の極めて低いトランジスタを介して記憶素子の電荷量を制御することで、データの記憶を行う。【選択図】図1
申请公布号 JP2017055121(A) 申请公布日期 2017.03.16
申请号 JP20160190578 申请日期 2016.09.29
申请人 株式会社半導体エネルギー研究所 发明人 山崎 舜平;小山 潤
分类号 H01L21/8242;G11C11/404;G11C11/405;H01L21/336;H01L21/477;H01L21/8234;H01L21/8238;H01L27/06;H01L27/08;H01L27/092;H01L27/108;H01L27/115;H01L29/786;H01L29/788;H01L29/792 主分类号 H01L21/8242
代理机构 代理人
主权项
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