发明名称 薄膜トランジスタの製造方法
摘要 薄膜トランジスタ(100)の製造方法は、基板(110)の上方に酸化物半導体膜(141)を形成する工程と、酸化物半導体膜(141)上にシリコン膜(151)を形成する工程と、シリコン膜(151)をプラズマ酸化することで、(i)シリコン酸化膜(152)を形成し、かつ、(ii)酸化物半導体膜(141)に酸素を供給する工程とを含む。
申请公布号 JPWO2015083303(A1) 申请公布日期 2017.03.16
申请号 JP20150551370 申请日期 2014.08.26
申请人 株式会社JOLED 发明人 佐々木 厚
分类号 H01L21/336;H01L21/306;H01L21/316;H01L29/786 主分类号 H01L21/336
代理机构 代理人
主权项
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