发明名称 不揮発性半導体記憶装置
摘要 【課題】電荷蓄積層の薄膜化と電荷捕獲の高効率化を実現する不揮発性半導体記憶装置を提供することを目的とする。【解決手段】実施形態に係る不揮発性半導体記憶装置は、基板上に配置されたメモリセルを備え、前記メモリセルは、半導体層と、制御ゲート電極と、前記半導体層及び前記制御ゲート電極間に配置された電荷蓄積層と、前記半導体層及び前記電荷蓄積層間に配置された第1絶縁層と、前記電荷蓄積層及び前記ゲート電極間に配置された第2絶縁層とを備え、前記電荷蓄積層は、シリコンと窒素を含む絶縁体を含み、前記絶縁体は更に第1元素又は前記第1元素とは異なる第2元素、並びに、前記絶縁体に含まれた前記第1元素及び前記第2元素とは異なる第3元素を含む。【選択図】図5
申请公布号 JP2017054985(A) 申请公布日期 2017.03.16
申请号 JP20150178908 申请日期 2015.09.10
申请人 株式会社東芝 发明人 井野 恒洋;松下 大介;中崎 靖;諸田 美砂子;高島 章;虎谷 健一郎
分类号 H01L21/336;H01L27/105;H01L27/115;H01L29/788;H01L29/792 主分类号 H01L21/336
代理机构 代理人
主权项
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