发明名称 信号处理系统、其测试方法以及测试信号产生器
摘要 本发明提供的信号处理系统包含一待测模块、一振荡信号产生器、一转移滤波器与一测试模块。该待测模块具有一信号输入端。该振荡信号产生器是用以产生一组振荡信号。该转移滤波器包含受该组振荡信号控制的一混频器。该混频器具有一高频侧与一低频侧。该高频侧是耦接至该待测模块的该信号输入端。该测试模块是耦接至该混频器的该低频侧。当该信号处理系统处于一测试模式,该测试模块将一测试信号提供至该低频侧,以于该混频器的该高频侧产生一高频测试信号。
申请公布号 CN104242969B 申请公布日期 2017.03.15
申请号 CN201310226206.1 申请日期 2013.06.07
申请人 晨星半导体股份有限公司 发明人 颜仕杰;洪志铭
分类号 H04B1/16(2006.01)I;H04B17/29(2015.01)I 主分类号 H04B1/16(2006.01)I
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人 骆希聪
主权项 一种信号处理系统,包含:一待测模块,具有一信号输入端;一振荡信号产生器,用以产生一组振荡信号;一转移滤波器,包含一基频滤波电路与受该组振荡信号控制的一混频器,该混频器具有一高频侧与一低频侧,该高频侧是耦接至该待测模块的该信号输入端,该基频滤波电路耦接于该低频侧;以及一测试模块,用以提供一测试信号至该低频侧,以于该混频器的该高频侧产生一高频测试信号;其中,于一测试模式中,该转移滤波器提供该高频测试信号至该待测模块的信号输入端;而于一正常运作模式中,该转移滤波器为该待测模块提供一滤波功能。
地址 中国台湾新竹县竹北市台元街26号4楼之1