发明名称 装配位置的示教
摘要 本发明描述了一种用来对元件载体(150)的描述进行修正的方法,该描述包括电子元件(172、174、178、180)的几何形状方面的额定数据。所述方法具有:(a)借助照相机(340)探测元件载体(150)的表面的第一部分的第一图像(242);(b)将第一图像存储在(242)中;(c)在第一时间段中示出第一图像(242);(d)得出第一元件‑连接面(292、294、296)在第一图像(242)内的实际位置,所述元件‑连接面配属于用于第一元件(180)的第一装配位置;(e)将实际位置与在第一装配位置中待装配的第一元件(180)的第一元件‑连接触点(282、284、286)的额定位置进行比较,所述代表几何形状方面的额定数据的一部分,(f)就第一元件(180)的额定位置而言,对元件载体的描述进行修正,因此产生了修正的额定位置,为此扩大了在修正的额定位置上待装配的第一元件(180)的第一元件‑A连接触点(282、284、286)和的第一元件‑连接面(292、294、296)之间的空间重合;(g)在第一时间段内将照相机(340)移至第二位置;(h)借助照相机(340)探测元件载体(150)的表面的第二部分的第二图;(i)存储第二图像;(j)在第一时间段中示出第二图像。本发明还涉及一种用来装配元件载体(150)的方法、一种计算机程序以及自动装配机(300),它们设计得用来执行所述修正方法。
申请公布号 CN106507656A 申请公布日期 2017.03.15
申请号 CN201610716369.1 申请日期 2016.08.24
申请人 先进装配系统有限责任两合公司 发明人 乔斯·卡洛斯·阿尔卡斯;马丁·梅尔茨
分类号 H05K13/02(2006.01)I 主分类号 H05K13/02(2006.01)I
代理机构 北京申翔知识产权代理有限公司 11214 代理人 艾晶
主权项 一种方法,用来对待装配的、但至少部分还未装配的元件载体(150)的描述进行修正,该描述包括借助装配过程待安放在元件载体(150)上的电子元件(172、174、178、180)的几何形状方面的额定数据,所述方法具有:借助照相机(340)探测元件载体(150)的表面的第一部分的第一图像(242);将探测到的第一图像(242)存储在数据存储器中;在第一时间段中示出存储的第一图像(242);得出第一元件‑连接面(292、294、296)在所示第一图像(242)内的实际位置,所述元件‑连接面(292、294、296)配属于用于待装配的第一元件(180)的第一装配位置;将得出的实际位置与在第一装配位置中待装配的第一元件(180)的第一元件‑连接触点(282、284、286)的额定位置进行比较,所述额定位置代表几何形状方面的额定数据的一部分,所述部分配属于待装配的第一元件(180);就待装配的第一元件(180)在元件载体(150)上的额定位置而言,对元件载体(150)的描述进行修正,因此产生了修正的额定位置,为此扩大了在修正的额定位置上待装配的第一元件(180)的第一元件‑连接触点(282、284、286)和所示第一图像(242)内的第一元件‑连接面(292、294、296)之间的空间重合;在第一时间段内将照相机(340)移至第二位置;借助照相机(340)探测元件载体(150)的表面的第二部分的第二图像,其中第二部分与第一部分是不同的;将第二图像存储在数据存储器中;以及在第一时间段中示出第二图像。
地址 德国慕尼黑