发明名称 用于光刻设备内的膜和包括这种膜的光刻设备
摘要 本发明披露一种对极紫外线(EUV)辐射透射的膜,所述膜可用作光刻设备中的表膜或光谱滤光片。该膜包括:一个或更多个高掺杂区,其中所述膜是以大于10<sup>17</sup>cm<sup>‑3</sup>的掺杂剂浓度而掺杂;及具有低掺杂(或未掺杂)的一个或更多个区。所述膜可具有具备低掺杂的主衬底和一个或更多个附加层,其中所述高掺杂区被包括于所述附加层中的一些或全部内。
申请公布号 CN106489084A 申请公布日期 2017.03.08
申请号 CN201580036687.7 申请日期 2015.07.02
申请人 ASML荷兰有限公司 发明人 安德雷·亚历山德罗维奇·尼基佩洛夫;V·Y·班尼恩;约瑟夫·帕卓斯·亨瑞克瑞·本叔普;阿尔扬·布格阿德;弗洛里安·迪迪埃·阿尔滨·达鲁因;阿列克谢·谢尔盖耶维奇·库兹涅佐夫;玛丽亚·皮特;L·斯卡克卡巴拉兹;威廉·琼·范德赞德;彼得-詹·范兹沃勒;A·M·雅库尼恩
分类号 G02B5/20(2006.01)I;G03F7/20(2006.01)I 主分类号 G02B5/20(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 胡良均
主权项 一种对极紫外线辐射透射的膜,其包括:一个或更多个高掺杂区,其中在所述一个或更多个高掺杂区所述膜被以高掺杂剂浓度而掺杂;和一个或更多个低掺杂区,在所述一个或更多个低掺杂区中所述膜未掺杂或具有低掺杂剂浓度;其中高掺杂剂浓度被限定为大于10<sup>17</sup>cm<sup>‑3</sup>的掺杂剂浓度,低掺杂剂浓度被限定为小于10<sup>17</sup>cm<sup>‑3</sup>的掺杂剂浓度。
地址 荷兰维德霍温