发明名称 | HG‑ICP‑MS测定地质中稀散元素锗和碲的方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种HG‑ICP‑MS测定地质中稀散元素锗和碲的方法,包括:称取地质样品于封闭溶样弹的聚四氟乙烯内罐中,对地质样品预处理;配置氢化物发生反应体系,分别引入样品、酸和碱溶液,产生的氢化物经气液分离后由载气送入等离子体中进行测定;校准曲线及方法检出限,以3倍标准偏差计算,并考虑样品稀释倍数1000得到Ge和Te的检出限。本发明获得分析信号的灵敏度和稳定性较高,连续测定20次Ge和Te信号强度的相对标准偏差分别为8.3%和2.1%;Te检出限比采用敞口四酸溶样ICP‑MS直接测定的检出限0.1μg/g更低,应用于分析实际样品可给出准确结果。 | ||
申请公布号 | CN106483185A | 申请公布日期 | 2017.03.08 |
申请号 | CN201610687207.X | 申请日期 | 2016.08.18 |
申请人 | 中国地质调查局西安地质调查中心 | 发明人 | 程秀花 |
分类号 | G01N27/62(2006.01)I | 主分类号 | G01N27/62(2006.01)I |
代理机构 | 天津市鼎和专利商标代理有限公司 12101 | 代理人 | 李凤 |
主权项 | 一种HG‑ICP‑MS测定地质中稀散元素锗和碲的方法,其特征在于,所述HG‑ICP‑MS测定地质中稀散元素锗和碲的方法包括:称取地质样品于封闭溶样弹的聚四氟乙烯内罐中,对地质样品预处理;配置氢化物发生反应体系,分别引入样品、酸和碱溶液,产生的氢化物经气液分离后由载气送入等离子体中进行测定;校准曲线及方法检出限,以3倍标准偏差计算,并考虑样品稀释倍数1000得到Ge和Te的检出限。 | ||
地址 | 710054 陕西省西安市碑林区友谊东路438号 |