发明名称 选择读参数的方法及装置
摘要 本发明涉及电子设备技术领域,公开了一种选择读参数的方法及装置。本发明中,选择读参数的方法,包含以下步骤:降低存储器与应用处理器的输出驱动能力;对存储器进行数据的读操作,并选出错误的读参数,如果选不出错误的读参数,则继续降低存储器与应用处理器的输出驱动能力,直至选出错误的读参数;其中,错误的读参数对应的时钟信号为第一时钟信号;从第一时钟信号所在的采样周期内,选择第二时钟信号对应的采样点的读参数;其中,第二时钟信号与所述第一时钟信号相隔预设时长。这样,能够正确有效地挑选出存储器的读参数,解决由于读参数挑选不合理导致的系统死机的问题。
申请公布号 CN106484557A 申请公布日期 2017.03.08
申请号 CN201510548935.8 申请日期 2015.08.31
申请人 联芯科技有限公司;大唐半导体设计有限公司 发明人 李斌
分类号 G06F11/10(2006.01)I 主分类号 G06F11/10(2006.01)I
代理机构 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 代理人 成丽杰
主权项 一种选择读参数的方法,其特征在于,包含以下步骤:降低存储器与应用处理器的输出驱动能力;对所述存储器进行数据的读操作,并选出错误的读参数,如果选不出错误的读参数,则继续降低所述存储器与应用处理器的输出驱动能力,直至选出错误的读参数;其中,所述错误的读参数对应的时钟信号为第一时钟信号;从所述第一时钟信号所在的采样周期内,选择第二时钟信号对应的采样点的读参数;其中,所述第二时钟信号与所述第一时钟信号相隔预设时长。
地址 200233 上海市徐汇区钦江路333号41幢4楼