发明名称 |
选择读参数的方法及装置 |
摘要 |
本发明涉及电子设备技术领域,公开了一种选择读参数的方法及装置。本发明中,选择读参数的方法,包含以下步骤:降低存储器与应用处理器的输出驱动能力;对存储器进行数据的读操作,并选出错误的读参数,如果选不出错误的读参数,则继续降低存储器与应用处理器的输出驱动能力,直至选出错误的读参数;其中,错误的读参数对应的时钟信号为第一时钟信号;从第一时钟信号所在的采样周期内,选择第二时钟信号对应的采样点的读参数;其中,第二时钟信号与所述第一时钟信号相隔预设时长。这样,能够正确有效地挑选出存储器的读参数,解决由于读参数挑选不合理导致的系统死机的问题。 |
申请公布号 |
CN106484557A |
申请公布日期 |
2017.03.08 |
申请号 |
CN201510548935.8 |
申请日期 |
2015.08.31 |
申请人 |
联芯科技有限公司;大唐半导体设计有限公司 |
发明人 |
李斌 |
分类号 |
G06F11/10(2006.01)I |
主分类号 |
G06F11/10(2006.01)I |
代理机构 |
上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 |
代理人 |
成丽杰 |
主权项 |
一种选择读参数的方法,其特征在于,包含以下步骤:降低存储器与应用处理器的输出驱动能力;对所述存储器进行数据的读操作,并选出错误的读参数,如果选不出错误的读参数,则继续降低所述存储器与应用处理器的输出驱动能力,直至选出错误的读参数;其中,所述错误的读参数对应的时钟信号为第一时钟信号;从所述第一时钟信号所在的采样周期内,选择第二时钟信号对应的采样点的读参数;其中,所述第二时钟信号与所述第一时钟信号相隔预设时长。 |
地址 |
200233 上海市徐汇区钦江路333号41幢4楼 |