发明名称 |
一种逆阻型IGBT及其制作方法 |
摘要 |
本发明公开了一种RB-IGBT及其制作方法,该RB-IGBT包括:衬底,衬底具有漂移区;漂移区包括:第一区、第二区以及包围第二区的第三区;设置在衬底对应第二区的上表面内的主结,主结包围第一区;设置在第三区内的隔离区;设置在衬底对应第一区的上表面内的IGBT元胞;设置在衬底下表面内的集电区;其中,第二区的载流子寿命小于第一区的载流子寿命。本发明技术方案可以消除主结附近的电流集中现象,进而降低了导通时主结处的电流密度,避免了RB-IGBT关断时主结发射雪崩击穿的问题,进而避免器件被烧毁。 |
申请公布号 |
CN106486538A |
申请公布日期 |
2017.03.08 |
申请号 |
CN201510548998.3 |
申请日期 |
2015.08.31 |
申请人 |
上海联星电子有限公司;江苏中科君芯科技有限公司 |
发明人 |
滕渊;朱阳军;卢烁今;田晓丽 |
分类号 |
H01L29/739(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I;H01L21/331(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/739(2006.01)I |
代理机构 |
北京集佳知识产权代理有限公司 11227 |
代理人 |
王宝筠 |
主权项 |
一种RB‑IGBT,其特征在于,包括:衬底,所述衬底具有漂移区;所述漂移区包括:第一区;包围所述第一区的第二区;以及包围所述第二区的第三区;设置在所述衬底对应所述第二区的上表面内的主结,所述主结包围所述第一区;设置在所述第三区内的隔离区;设置在所述衬底对应所述第一区的上表面内的IGBT元胞;设置在所述衬底下表面内的集电区;其中,所述第二区的载流子寿命小于所述第一区的载流子寿命。 |
地址 |
200120 上海市浦东新区金桥路939号宏南投资大厦1513室 |