发明名称 窒化物半導体結晶、製造方法および製造装置
摘要 結晶の直径が4インチ以上、かつ、反りの曲率半径が100m以上であり、結晶の不純物濃度が1×1017/cm3以下である窒化物半導体結晶を提供する。基板を用意する工程と、分圧が9.0×10−3atm以上である三ハロゲン化ガリウムガスを基板上に供給する工程と、基板上に、GaN結晶を−C軸方向に成長させる工程とを備え、GaN結晶の成長温度が1200℃以上である窒化物半導体結晶の製造方法、もしくは、基板を用意する工程と、分圧が9.0×10−3atm以上である三ハロゲン化アルミニウムガスを基板上に供給する工程と、基板上に、AlN結晶を−C軸方向に成長させる工程とを備え、AlN結晶の成長温度が1400℃以上である窒化物半導体結晶の製造方法を提供する。
申请公布号 JPWO2015037232(A1) 申请公布日期 2017.03.02
申请号 JP20150536448 申请日期 2014.09.10
申请人 国立大学法人東京農工大学 发明人 纐纈 明伯;熊谷 義直;村上 尚
分类号 C30B29/38;C30B25/14 主分类号 C30B29/38
代理机构 代理人
主权项
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