发明名称 半導体装置
摘要 半導体装置は、第1導電型不純物を含む高濃度層を有するシリコン基板と、高濃度層の上に形成され、第1導電型不純物を含む低濃度層と、低濃度層の上に形成された第1の電極及び第2の電極と、第2の電極と高濃度層との間に電流を流す縦型半導体素子と、第1の電極と高濃度層との間を電気的に導通させる第1のトレンチ部とを有し、第1のトレンチ部は、第1導電型の不純物を含む第1のポリシリコンと、平面視で第1のポリシリコンを囲む第1導電型不純物を含む拡散層とを有し、第1のポリシリコンは、低濃度層を貫通して高濃度層に達するように形成され、第1のポリシリコンと拡散層の第1導電型不純物濃度は、低濃度層から高濃度層に至る方向において一定である。
申请公布号 JPWO2015008444(A1) 申请公布日期 2017.03.02
申请号 JP20150527162 申请日期 2014.07.02
申请人 パナソニックIPマネジメント株式会社 发明人 山下 勝重;西村 兼一;山本 敦也;青木 成剛
分类号 H01L29/78;H01L21/329;H01L21/331;H01L21/336;H01L29/47;H01L29/732;H01L29/861;H01L29/868;H01L29/872 主分类号 H01L29/78
代理机构 代理人
主权项
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