| 摘要 |
【課題】後方ブリルアン散乱光の周波数変化を、コヒーレント検波によりビート信号の位相差から測定し、伝送損失や、過渡応答によるオフセットを除去する、光ファイバ歪み測定装置を提供する。【解決手段】光源部１０と、分岐部４２と、遅延部４８と、合波部５０と、減算回路７６にて構成され、光源部は、プローブ光を生成する。プローブ光は、被測定光ファイバ１００に入射される。分岐部は、プローブ光により被測定光ファイバで発生する後方ブリルアン散乱光を、第１光路及び第２光路に２分岐する。遅延部は、第１光路及び第２光路のいずれか一方に設けられ、第１光路及び第２光路を伝播する光の間に遅延時間差を与える。合波部は、第１光路及び第２光路を伝播する光を合波して合波光を生成する。減算回路は、後方ブリルアン散乱のＳｔｏｋｅｓ光から得られた位相差信号と、後方ブリルアン散乱のＡｎｔｉ−Ｓｔｏｋｅｓ光から得られた位相差信号の差分を取る。【選択図】図３ |
