发明名称 X線分析装置
摘要 【課題】複数の取付ポートを占有することなく、エネルギー分解能が高い検出と計数効率が高い検出とを実現可能なX線分析装置を提供する。【解決手段】X線分析装置10は、電子銃14と、X線光学部材30と、第1検出部および第2検出部と、距離変更機構42と、を備える。X線光学部材30は、試料11から放出される特性X線13を第1検出部および第2検出部の少なくとも何れかに導く。第1検出部は、第2検出部に比べて、相対的に計数効率よりもエネルギー分解能を優先させるように形成されている。第2検出部は、第1検出部に比べて、相対的にエネルギー分解能よりも計数効率を優先させるように形成されている。距離変更機構42は、X線光学部材30の光軸の軸方向における第1検出部および第2検出部とX線光学部材30との間の距離を変更する。【選択図】図1
申请公布号 JP2017044557(A) 申请公布日期 2017.03.02
申请号 JP20150166549 申请日期 2015.08.26
申请人 株式会社日立ハイテクサイエンス 发明人 中山 哲;田中 啓一;永田 篤士;茅根 一夫
分类号 G01N23/225;G01N23/223;G01T7/00 主分类号 G01N23/225
代理机构 代理人
主权项
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