发明名称 提高Co/Pt薄膜材料的自旋‑轨道耦合强度的方法
摘要 提高Co/Pt薄膜材料的自旋‑轨道耦合强度的方法,属于磁性材料领域。所述方法是:对钛镍TiNi记忆合金基片进行预拉伸处理、表面抛光以及表面的氩离子轰击处理;然后,在上述TiNi记忆合金基片上沉积[钴Co/铂Pt]<sub>n</sub>多层膜;沉积完毕后,在真空环境下对其进行两步热处理即低温处理和高温处理,引发基片的形状记忆效应,同时诱导晶化的Co/Pt多层膜在TiNi基片上的外延生长。最后,冷却至室温即可。此发明只需要采用廉价的形状记忆合金作为基片,在自旋电子学薄膜材料上产生均匀、可控的大弹性应力,可以有效地增加整个薄膜的自旋‑轨道耦合强度;此方法不需要高成本的稀有金属或昂贵的附加装置,具有效率高、成本低、制备简单等优点,适合应用于未来自旋电子学技术中。
申请公布号 CN104674161B 申请公布日期 2017.03.01
申请号 CN201510119999.6 申请日期 2015.03.18
申请人 北京科技大学 发明人 冯春;赵建成;曹易;于广华
分类号 C23C14/02(2006.01)I;C23C14/16(2006.01)I;C23C14/35(2006.01)I;C23C14/58(2006.01)I 主分类号 C23C14/02(2006.01)I
代理机构 北京市广友专利事务所有限责任公司 11237 代理人 张仲波
主权项 一种提高Co/Pt薄膜材料的自旋‑轨道耦合强度的方法,其特征为:在经过预拉伸、表面抛光处理和氩离子轰击处理的TiNi记忆合金基片上沉积[Co/Pt]<sub>n</sub>多层膜,沉积完毕后,对其进行热处理,引发形状记忆效应并产生界面弹性应力,最后,冷却至室温即可;该方法的具体过程为:(1)、对TiNi记忆合金基片进行预拉伸处理、表面抛光以及表面氩离子轰击处理,所述的TiNi记忆合金基片厚度为0.1~0.5毫米,预拉伸量为6%~15%,抛光后的表面粗糙度0.5~2纳米,氩离子轰击电流为5~15mA,轰击时间为1~4分钟;(2)、利用磁控溅射方法,在步骤(1)所述TiNi记忆合金基片上依次沉积Co原子和Pt原子,形成Co/Pt多层膜结构,所述的沉积过程中溅射室的本底真空度1×10<sup>‑5</sup>~5×10<sup>‑5</sup>Pa,溅射时氩气压为0.4~1.2Pa,沉积得到的Co原子层的厚度为<img file="FDA0001118574560000011.GIF" wi="222" he="63" />Pt原子层的厚度为<img file="FDA0001118574560000012.GIF" wi="230" he="63" />周期数n为3~7;(3)、在真空环境下,对TiNi记忆合金基片进行热处理,所述真空环境的真空度为2×10<sup>‑5</sup>~5×10<sup>‑5</sup>Pa,热处理过程分为低温处理和高温处理:低温处理的温度为80~120℃,保温时间为5~15分钟;高温处理的温度为200~300℃,保温时间为10~20分钟;最后,将TiNi记忆合金基片冷却到室温后即可。
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