用于验证电荷耦合器件的方法

摘要

本发明涉及用于验证电荷耦合器件的方法。提供了一种用于在使用物理上不可克隆的功能的情况下验证电荷耦合器件（CCD）、尤其是在包括电荷耦合器件的数字摄像机中的电荷耦合器件的方法，其中在电荷耦合器件中存在的像素对所限定的入射光的要测量的响应被用作物理上不可克隆的功能（PUF）。此外，介绍了一种相对应的装置以及一种包括这样的装置的摄像机。

主权项

一种用于在使用物理上不可克隆的功能（PUF）的情况下验证电荷耦合器件（CCD）（2）的方法，其中，在电荷耦合器件（2）中存在的像素对所限定的入射光的要测量的响应被用作物理上不可克隆的功能，其中设置有可运动的不透光的盖板（9），借助所述盖板（9）在验证期间阻止不期望的光入射到电荷耦合器件（CCD）（2）上。