发明名称 |
一种基于光计算的扫频光学相干成像系统 |
摘要 |
本发明涉及一种基于光计算的扫频光学相干成像系统,其特征在于:包括一扫频干涉系统和一光计算系统;所述扫频干涉系统包括脉冲激光器、扫频光器件、OCT干涉仪和光电探测器;所述光计算系统包括射频放大器、光强度调制器、宽带光源、色散器件、马赫‑曾德尔干涉仪、平衡探测器、包络检波器、数据采集卡和计算机。本发明实现了光频域信号的实时傅里叶变换,由于实时傅里叶变换能够及时地处理扫频光学相干成像系统的图像数据,所以本发明的成像速度极快,可以广泛应用于扫频光学相干成像中。 |
申请公布号 |
CN104706322B |
申请公布日期 |
2017.03.01 |
申请号 |
CN201510108910.6 |
申请日期 |
2015.03.12 |
申请人 |
清华大学 |
发明人 |
薛平;张晓;霍天成;王成铭;陈天元;廖文超;艾盛楠;章文欣;谢睿程 |
分类号 |
A61B5/00(2006.01)I |
主分类号 |
A61B5/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 |
代理人 |
徐宁;刘美丽 |
主权项 |
一种基于光计算的扫频光学相干成像系统,其特征在于:包括一扫频干涉系统和一光计算系统;所述扫频干涉系统包括脉冲激光器、扫频光器件、OCT干涉仪和光电探测器;所述光计算系统包括射频放大器、光强度调制器、宽带光源、色散器件、马赫‑曾德尔干涉仪、平衡探测器、包络检波器、数据采集卡和计算机;所述脉冲激光器将输出的光脉冲发送到所述扫频光器件,得到波数随时间近似线性变化的扫频光,扫频光发射到所述OCT干涉仪得到待测样品时域上的干涉信号,待测样品时域上的干涉信号经所述光电探测器探测接收并转换为电信号,电信号发送到所述射频放大器驱动所述光强度调制器进行工作;所述宽带光源发出的直流宽带光经所述光强度调制器将光强调制为待测样品时域上干涉信号的波形后经所述色散器件发射到所述马赫‑曾德尔干涉仪,所述马赫‑曾德尔干涉仪将出射的光信号发送到所述平衡探测器,所述平衡探测器将光信号进行处理并将得到的电信号发送到所述包络检波器得到包络信号,包络信号经所述数据采集卡输入到所述计算机进行显示,获得所述待测样品的结构信息。 |
地址 |
100084 北京市海淀区100084信箱82分箱清华大学专利办公室 |