发明名称 半導体装置及びその製造方法
摘要 半導体装置は、第1電極132及び第2電極133を含む第1表面層113を有する第1の基板101と、第3電極142及び第4電極143を含む第2表面層123とを有し、第2表面層123を第1表面層113と接するようにして、第1の基板101と直接接合された第2の基板102と、第2電極133と第4電極143との間に設けられた機能性膜103とを備えている。第1電極132と第3電極142とは互いに接して接合されており、第2電極133、機能性膜103及び第4電極143により受動素子が構成されている。
申请公布号 JPWO2014184988(A1) 申请公布日期 2017.02.23
申请号 JP20150516884 申请日期 2014.02.19
申请人 パナソニックIPマネジメント株式会社 发明人 可部 達也;新井 秀幸
分类号 H01L21/822;H01L21/3205;H01L21/768;H01L23/522;H01L27/04 主分类号 H01L21/822
代理机构 代理人
主权项
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