发明名称 薄膜形成方法
摘要 反応性スパッタリングにおいて、成膜速度が速く、膜質の安定した化合物薄膜を得る。電圧モニタリング制御(VC)、および、ガス流量モニタリング制御(QC1)により薄膜を形成する。電圧モニタリング制御(VC)は、第1のサイクルタイム(tv)において、ターゲット電圧(V)をモニタリングすることにより、ターゲット電圧(V)の値を目標電圧(Vt)の値に近づけるようにガス流量(Q)を調整する制御である。ガス流量モニタリング制御(QC1)は、第2のサイクルタイム(tq1(>tv))において、ガス流量(Q)をモニタリングすることにより、ガス流量(Q)の値を目標ガス流量(Qt)の値に近づけるようにターゲット電圧(V)の目標電圧(Vt)を変更する制御である。
申请公布号 JPWO2014196352(A1) 申请公布日期 2017.02.23
申请号 JP20150521374 申请日期 2014.05.20
申请人 株式会社村田製作所 发明人 茶谷 宗人;關 仁士;森 敦史
分类号 C23C14/34 主分类号 C23C14/34
代理机构 代理人
主权项
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