发明名称 光纤环的测试系统
摘要 本发明涉及一种光纤环的测试系统,包括测试主机和与测试主机连接的用于放置光纤环的温度激励装置;温度激励装置包括上部腔体及与上部腔体密封安装的下部腔体;上部腔体内设置有光纤环;下部腔体内设置有第一加热/制冷体和与第一加热/制冷体连接的第一控制电路,用于根据接收的温度控制信号驱动第一加热/制冷体对上部腔体内部的温度进行控制;测试主机包括:主机体;设置于主机体内部的光纤陀螺系统,用于对光纤环进行测试生成测试数据;设置于主机体内的电路主板,用于向第一控制电路发送温度控制信号,并采集光纤陀螺系统生成的测试数据。本发明可有效提升对光纤环的检测效率。
申请公布号 CN106441369A 申请公布日期 2017.02.22
申请号 CN201610939457.8 申请日期 2016.10.31
申请人 苏州光环科技有限公司 发明人 姚晓天;赵鑫;钦明亮
分类号 G01C25/00(2006.01)I;G01M11/00(2006.01)I 主分类号 G01C25/00(2006.01)I
代理机构 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人 唐清凯
主权项 一种光纤环的测试系统,其特征在于,包括测试主机(1100)和与所述测试主机(1100)连接的用于放置所述光纤环的温度激励装置(1200);所述温度激励装置(1200)包括上部腔体(120)及与所述上部腔体(120)密封安装的下部腔体(110);所述上部腔体(120)内设置有光纤环(130);所述下部腔体(110)内设置有第一加热/制冷体(140),用于通过下部腔体(110)的上平台(111)传导能量对上部腔体(120)的内部进行制热或制冷;所述下部腔体(110)内设置有与所述第一加热/制冷体(140)连接的第一控制电路,用于根据接收的温度控制信号驱动所述第一加热/制冷体(140)对上部腔体内部的温度进行控制;所述测试主机(1100)包括:主机体(1110);设置于所述主机体(1110)内部的光纤陀螺系统(1120),与所述光纤环(130)连接,用于对所述光纤环(130)进行测试生成测试数据;设置于所述主机体内的电路主板(1130),所述电路主板(1130)连接所述第一控制电路和所述光纤陀螺系统(1120),用于向所述第一控制电路发送温度控制信号,并采集所述光纤陀螺系统(1120)生成的测试数据。
地址 215123 江苏省苏州市苏州工业园区星湖街328号创意产业园1-B202单元
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