发明名称 |
一种JFET管 |
摘要 |
本发明涉及半导体技术领域,特别涉及一种JFET管,P型衬底;N型注入区;P型注入区;P型重掺杂区;N型重掺杂的漏区和源区;所述漏区与所述P型注入区之间的第一场氧化层;所述源区与所述P型注入区之间的第二场氧化层,所述第一场氧化层下的N型注入区上部形成P型掺杂区,所述P型掺杂区靠近P型注入区一侧与栅极电性相连,构成第二JFET结构,所述第二JFET结构的夹断电压高于本征JFET结构,本发明JFET管,其耐压性能有效提高。 |
申请公布号 |
CN106449768A |
申请公布日期 |
2017.02.22 |
申请号 |
CN201611051509.4 |
申请日期 |
2016.11.25 |
申请人 |
东莞市联洲知识产权运营管理有限公司 |
发明人 |
李风浪;李舒歆 |
分类号 |
H01L29/808(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/808(2006.01)I |
代理机构 |
北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 |
代理人 |
连平 |
主权项 |
一种JFET管,包括:P型衬底,所述P型衬底作为背栅;在所述P型衬底的上表层中形成N型注入区;在所述N型注入区的上表层中形成的P型注入区,所述P型注入区作为正栅;在所述P型注入区的上表层中形成的P型重掺杂区;在所述N型注入区上表层的两端形成的N型重掺杂的漏区和源区,正栅靠近所述源区;所述漏区与所述P型注入区之间的N型注入区上形成的第一场氧化层;所述源区与所述P型注入区之间的N型注入区上形成的第二场氧化层,其特征在于:所述第一场氧化层下的N型注入区上部形成P型掺杂区,所述P型掺杂区靠近P型注入区一侧与栅极电性相连,构成第二JFET结构,所述第二JFET结构的夹断电压高于本征JFET结构。 |
地址 |
523000 广东省东莞市松山湖高新技术产业工发区生产力大厦406 |