发明名称 |
高电压晶体管和低电压非平面晶体管的单片集成 |
摘要 |
跨多个非平面半导体主体的高电压晶体管(例如,鳍状物或纳米线)利用个体的非平面半导体主体与非平面晶体管单片地集成。非平面FET可以用于IC内的低电压CMOS逻辑电路,而高电压晶体管可以用于在IC内的高电压电路。栅极叠置体可以设置在将一对鳍状物分隔开的高电压沟道区之上,所述鳍状物中的每个鳍状物用作高电压器件的源极/漏极的部分。高电压沟道区可以是相对于鳍状物凹进的衬底的平面长度。高电压栅极叠置体可以使用包围鳍状物的隔离电介质作为厚栅极电介质。高电压晶体管可以包括被形成到衬底中的由高电压栅极叠置体分隔开的一对掺杂阱,一个或多个鳍状物被包含在每个阱内。 |
申请公布号 |
CN106463533A |
申请公布日期 |
2017.02.22 |
申请号 |
CN201480079089.3 |
申请日期 |
2014.06.20 |
申请人 |
英特尔公司 |
发明人 |
K·弗阿;N·尼迪;C-H·简;T·张 |
分类号 |
H01L29/78(2006.01)I;H01L21/335(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/78(2006.01)I |
代理机构 |
永新专利商标代理有限公司 72002 |
代理人 |
陈松涛;王英 |
主权项 |
一种集成电路(IC)结构,包括:设置在所述衬底的第一区之上的高电压FET,其中,所述高电压FET包括:一对非平面半导体主体,所述主体中的每个主体从所述衬底中的掺杂阱延伸,并且具有沟道区,所述沟道区位于所述一对非平面半导体主体之间并且将所述掺杂阱分隔开;源极区,所述源极区位于所述非平面半导体主体中的第一非平面半导体主体中;漏极区,所述漏极区位于所述非平面半导体主体中的第二非平面半导体主体中;以及栅极叠置体,所述栅极叠置体设置在沟道区之上。 |
地址 |
美国加利福尼亚 |