发明名称 |
基于模拟开关电路实现FPGA器件的测试系统及方法 |
摘要 |
本发明公开一种基于模拟开关电路实现FPGA器件的测试系统及方法,其测试系统包括:非易失性存储器、编程控制器、带隙基准电路以及三端口模拟开关电路,该三端口模拟开关电路的第一端口接带隙基准电路的输出电路端口,第二端口接双向测试接口,第三端口接非易失性存储器的输入端;所述编程控制器分别与非易失性存储器、带隙基准电路和三端口模拟开关电路连接,且该编程控制器还与I/O 接口连接。本发明通过三端口模拟开关电路引入了双向的测试接口,从而可以单独对Bandgap Reference和非易失存储器进行测试和校正。在这些工作结束后,FPGA器件可进入正常工作状态。 |
申请公布号 |
CN106448739A |
申请公布日期 |
2017.02.22 |
申请号 |
CN201610521872.1 |
申请日期 |
2016.07.05 |
申请人 |
广东高云半导体科技股份有限公司 |
发明人 |
朱璟辉;陈建光;陈思韬 |
分类号 |
G11C29/02(2006.01)I |
主分类号 |
G11C29/02(2006.01)I |
代理机构 |
广州粤高专利商标代理有限公司 44102 |
代理人 |
林丽明 |
主权项 |
一种基于模拟开关电路实现FPGA器件的测试系统,其特征在于,包括:非易失性存储器、编程控制器、带隙基准电路以及三端口模拟开关电路,该三端口模拟开关电路的第一端口接带隙基准电路的输出电路端口,第二端口接双向测试接口,第三端口接非易失性存储器的输入端;所述编程控制器分别与非易失性存储器、带隙基准电路和三端口模拟开关电路连接,且该编程控制器还与I/O 接口连接。 |
地址 |
528303 广东省佛山市顺德区容奇大道中16号东盈商务大厦13楼 |