发明名称 半導体装置の製造方法、基板処理装置および記録媒体
摘要 基板が通過している途中でプラズマが着火しても均一に成膜できるように、反応容器内に回転自在に設けられた基板載置台上に回転方向に沿って複数の基板200を載置する工程、第1処理領域201aに第1元素含有ガスの供給を開始する工程と、第2処理領域201bに第2元素含有ガスの供給を開始する工程と、前記第2処理領域201b内に設けられたプラズマ生成部206により、前記第2元素含有ガスのプラズマを第1活性度で生成を開始する第1工程と、前記回転によって前記複数の基板200を順次、前記第1処理領域201aと前記第2処理領域201bとを所定回数交互に通過させて、前記第1処理領域201aで第1元素含有層を形成し、前記第2処理領域201bで前記第1活性度よりも高い第2活性度のプラズマを生成して前記第1元素含有層を改質し、前記第1及び第2元素を含有する薄膜を形成する第2工程とを有する半導体装置の製造方法を提供する。
申请公布号 JPWO2014148551(A1) 申请公布日期 2017.02.16
申请号 JP20150506827 申请日期 2014.03.19
申请人 株式会社日立国際電気 发明人 上田 立志;田邊 潤一;山本 克彦;平 祐樹;大橋 直史;板谷 秀治
分类号 H01L21/31;C23C16/455;C23C16/50;H01L21/316 主分类号 H01L21/31
代理机构 代理人
主权项
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