斜扫的红外线阵探测器目标响应分析方法

摘要

本发明提供了一种斜扫的红外线阵探测器的目标响应分析方法，给出了以点源目标在像平面的位置中心、TDI探测器像元在积分起始时刻的位置、TDI探测器拓扑结构、TDI级数、采样间隔、垂直扫描方向与探测器线列方向的夹角为变量的目标响应表达式。因此，使用本发明的方法，可定量分析复杂拓扑结构的红外线阵扫描TDI探测器在任意方向扫描时的目标响应，能够以用户感兴趣的参数作为变量进行典型目标响应的分析，作为优化红外线阵探测器拓扑结构、红外相机扫描系统设计的重要依据。

主权项

一种斜扫的红外线阵探测器目标响应分析方法，用于当扫描方向与红外探测器的线列方向非垂直并采用双向过采样机制时，对所述红外探测器的像元所获取的目标能量进行定量分析，其特征在于，包括以下步骤：步骤一，根据光学系统设计参数和点扩散函数，确定点源目标在焦平面的能量分布和能量中心位置；步骤二，基于所设定的第一级探测器像元的左下角的坐标位置并根据所述红外探测器在所述双向过采样机制下的拓扑结构，确定奇阵列和偶阵列的探测器像元的左下角的坐标位置；步骤三，在当前积分级数为1的情况下，确定在所述积分时间内所述探测器像元的左下角从初始位置沿所述扫描方向滑动预定距离的探测器孔径函数；步骤四，当滑动的所述预定距离在预定区间变化时，确定所述探测器像元在滑动过程中积累的能量；步骤五，将当前积分级数从2逐步增加，记录下每个积分级数下积累的目标能量并进行求和运算，以获得所述奇阵列和所述偶阵列的探测器像元的目标响应；以及步骤六，对所述奇阵列和所述偶阵列的探测器像元的目标响应进行排列组合，从而得到最终的双向过采样体制下的红外线阵探测器的目标响应，其中，所述点扩散函数满足二维高斯分布，并且所述奇阵列与所述偶阵列在所述红外探测器的线列方向左右错开1/2像元。