发明名称 DEVICE FOR MEASURING MICRO NOISE
摘要 본 발명은 휴대폰 PCB 기판에서 발생하는 미세 노이즈 신호를 측정하기 위한 프로브 장치에 관한 것으로, 제1 내지 제4 도전층과, 상기 제1 내지 제4 도전층 사이에 각각 배치되는 제1 내지 제3 유전체층을 포함하는 인쇄회로기판; 상기 인쇄회로기판의 제2 도전층 및 제3 도전층에 형성되어, 미세 노이즈 신호를 필터링하는 공진부; 및 상기 공진부와 일체로 형성되어, 상기 공진부로부터 출력되는 두 개의 노이즈 신호를 하나의 노이즈 신호로 변환하여 출력하는 컨버터부를 포함한다.
申请公布号 KR20170016732(A) 申请公布日期 2017.02.14
申请号 KR20150110198 申请日期 2015.08.04
申请人 엘지전자 주식회사 发明人 김인무;조영민;김기평
分类号 G01R29/26;G01R1/04;G01R1/067;G01R31/28 主分类号 G01R29/26
代理机构 代理人
主权项
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