发明名称 Verfahren und Schaltungen für die Erfassung eines Triodenbereichs
摘要 Detektorschaltung (71), umfassend einen ersten Eingang (74), der dazu konfiguriert ist, mit einem Sollwertanschluss einer Konstantstromquelle verbunden zu werden, wobei die Konstantstromquelle umfasst: einen Transistor (79) mit einem Gate, einer Source und einem Drain; und einen Operationsverstärker mit einem invertierenden Eingang, einem nicht-invertierenden Eingang und einem Ausgang; wobei das Gate mit dem Ausgang des Operationsverstärkers, die Source mit einem Ansteuerspannungsknoten, und der nicht-invertierende Eingang mit dem Sollwertanschluss verbunden ist; einen zweiten Eingang (73), der dazu konfiguriert ist, mit dem invertierenden Eingang des Operationsverstärkers und der Source des Transistors (79) verbunden zu werden; und einen Ausgang zum Setzten eines Flags (72), das anzeigt, dass der Transistor (79) im Triodenbereich betrieben wird; wobei die Detektorschaltung (71) dazu konfiguriert ist, eine Differenz zwischen der Spannung an dem ersten Eingang (74) und der Spannung an dem zweiten Eingang (73) mit einer Referenzbedingung zu vergleichen, wobei die Referenzbedingung auf der Triodenübergangsspannung des Transistors (79) bei einem gewählten Drain-Source-Strom basiert, und das Flag (72) zu setzen, wenn die Differenz die Referenzbedingung überschreitet.
申请公布号 DE112009001049(B4) 申请公布日期 2017.02.09
申请号 DE20091101049T 申请日期 2009.06.26
申请人 Atmel Corp. (n. d. Ges. d. Staates Delaware) 发明人 Santo, Hendrik;Vi, Kien;Dilip, S.
分类号 H03K5/153;G05F1/10;G09G3/34 主分类号 H03K5/153
代理机构 代理人
主权项
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