发明名称 一种微测辐射热计
摘要 本实用新型涉及一种微测辐射热计,包括用于非制冷红外探测器的微测辐射热计微桥结构,包括顶层氮化硅,所述顶层氮化硅向下依次为红外热敏叠层薄膜、氮化硅支撑层,氮化硅支撑层与反射层之间通过支撑桥墩形成谐振腔;所述金属反射层位于硅衬底之上;所述的红外热敏叠层薄膜为热敏电阻材料与石墨烯材料构成的叠层结构,所述红外热敏叠层薄膜包括一至三层石墨烯材料,且石墨烯材料的上下两侧均为热敏电阻材料。该微测辐射热计能够宽波段红外吸收增强,从而提高器件的红外吸收率和探测灵敏度,器件结构简单,兼容MEMS工艺,适合批量生产。
申请公布号 CN205940776U 申请公布日期 2017.02.08
申请号 CN201620760607.4 申请日期 2016.07.19
申请人 中国科学院重庆绿色智能技术研究院 发明人 魏兴战;杨俊;汤林龙;申钧;周大华;冯双龙;陆仕荣;史浩飞;杜春雷
分类号 G01J5/20(2006.01)I 主分类号 G01J5/20(2006.01)I
代理机构 北京元本知识产权代理事务所 11308 代理人 黎昌莉
主权项 一种微测辐射热计,其特征在于,包括顶层氮化硅,所述顶层氮化硅向下依次为红外热敏叠层薄膜、氮化硅支撑层,氮化硅支撑层与反射层之间通过支撑桥墩形成谐振腔;金属反射层位于硅衬底之上;所述的红外热敏叠层薄膜为热敏电阻材料与石墨烯构成的叠层结构,所述红外热敏叠层薄膜包括一至三层石墨烯材料,且石墨烯材料的上下两侧均为热敏电阻材料。
地址 400714 重庆市北碚区方正大道266号