| 摘要 |
본 발명은 방사선 조사기와; 상기 방사선 조사기 전방에, 분석 대상인 형광체가 놓여지는 스테이지와; 상기 스테이지를 사이에 두고, 상기 방사선 조사기와 대향하는 이미지센서와; 상기 형광체 일측에 위치하며 상기 형광체에 조사되는 방사선량을 측정하는 제1방사선량계와, 상기 이미지센서 일측에 위치하며, 상기 형광체를 투과한 방선선량을 측정하는 제2방사선량계 중 적어도 하나와; 상기 형광체와 관련된 특성 분석 항목에 따라 상기 이미지센서와 스테이지 사이에 선택적으로 배치되는 광학렌즈와 가시광선을 차단하고 방사선을 투과하는 특성을 갖는 방사선 투과판과; 상기 이미지센서와 상기 제1 및 2방사선량계 각각으로부터 해당 검출 정보를 전송받아 상기 형광체와 관련된 특성을 분석하는 분석용 컴퓨터를 포함하는 방사선 형광체 분석 시스템을 제공한다. |
