| 摘要 |
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Bestimmen einer durch einen thermischen Jitteranteil bedingten statistischen Abweichung einer jitterbehafteten Einzeldurchlaufzeit eines Signalwechsels durch eine von mehreren rückkopplungsfrei verschalteten Abbildungseinrichtungen, wobei durch eine jeweilige Abbildungseinrichtung ein jeweiliges Eingangsbit bijektiv auf ein jeweiliges Ausgangsbit abgebildet wird, mit den Schritten wiederholtes Durchführen von Messungen einer Gesamtdurchlaufzeit durch die mehreren rückkopplungsfrei verschalteten Abbildungseinrichtungen, Ermitteln (20) einer statistischen Abweichung der Messergebnisse, Ermitteln (30) einer statistischen Abweichung der jitterbehafteten Einzeldurchlaufzeit aus der statistischen Abweichung der Messergebnisse und Bestimmen (40) der durch den thermischen Jitteranteil bedingten statistischen Abweichung der jitterbehafteten Einzeldurchlaufzeit aus der statistischen Abweichung der jitterbehafteten Einzeldurchlaufzeit. |
